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當前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>光譜分析儀器>手持式熒光光譜儀>XRF-SK1金屬材料光譜儀

金屬材料光譜儀

簡要描述:金屬材料光譜儀可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素,Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

  • 產(chǎn)品型號:XRF-SK1
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-08-19
  • 訪  問  量:112

詳細介紹

品牌霍爾德?電子應用領(lǐng)域化工,鋼鐵/金屬,汽車及零部件

產(chǎn)品簡介:

XRF熒光光譜分析儀非常堅固耐用,可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求高的應用??梢杂脕韺Ω鞣N不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),無輻射性同位素,現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準確,能準確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。可對各種礦石進行多元素分析,廣泛應用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定,還應用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

XRF熒光光譜分析儀的技術(shù)參數(shù):

1、檢測元素:可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素,Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探測器:美國Moxtek Si-pin(6 mm2)、美國Amptek Si-pin(25 mm2)、德國KETEK SDD探測器 ;

3、激發(fā)源:大功率微型直板X射線管,W靶材,4W大功率X射線管,管電壓50KV,管電流最大可達100μA;

4、采用KMX技術(shù),更高X射線計數(shù)率,超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前,不需要外部標樣,自動能量校準核查;

5、濾光片:配置8個濾光片,可根據(jù)測試元素自動切換;

6、測試方法:基本參數(shù)法,支持經(jīng)驗系數(shù)法修正;

7、點觸或扣動扳機控制測試開始,測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求,也可以一直按著扳機測試樣品。

8、操作系統(tǒng):Window CE 6.0操作系統(tǒng),安全、放心;

9、自診斷功能:儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進行診斷,并會生成日志,便于快速排查出故障;

10、標配模式:礦石模式;選配模式:合金分析模式、土壤分析模式;

參數(shù)詳細信息
主要配置1 礦石分析儀主機1套;2 標準樣品1個;3 原裝可充電鋰電池2塊;4 充電座及電源線;5 U盤(32G)1個;6 加強型聚丙烯膜5片;7 標準手提防潮防震箱一只。
標配模式礦石模式;選配模式:合金分析模式、土壤分析模式
自診斷功能儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進行診斷,并會生成日志,便于快速排查出故障
操作系統(tǒng)Window CE 6.0操作系統(tǒng),安全、放心
測試方法基本參數(shù)法,支持經(jīng)驗系數(shù)法修正點觸或扣動扳機控制測試開始,測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求,也可以一直按著扳機測試樣品。
濾光片配置8個濾光片,可根據(jù)測試元素自動切換;
激發(fā)源大功率微型直板X射線管,W靶材,4W大功率X射線管,管電壓50KV,電流最大可達100 μA;采用KMX技術(shù),更高X射線計數(shù)率,超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前,不需要外部標樣,自動能量校準核查;
探測器美國Moxtek Si-pin(6 mm2),美國Amptek Si-pin(25 mm2),德國KETEK SDD探測器
檢測元素可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(紅色為SDD探測器配置)

金屬材料光譜儀

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